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  • PCT高壓加速壽命試驗
    PCT高壓加速壽命試驗

    PCT高壓加速壽命試驗機主要是測試半導體封裝之溼氣能力☁·││↟,待測產品被置於嚴苛之溫度╃│·↟、溼度及壓力下測試☁·││↟,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體☁·││↟,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路☁·││↟,或封裝體引腳間因汙染造成短路等••·▩。 PCTZ主要是測試半導體封裝之溼氣能力☁·││↟,待測產品被置於嚴苛之溫度╃│·↟、溼度及壓力下測試☁·││↟,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體••·▩。

    時間☁↟↟◕:2020-06-15型號☁↟↟◕:瀏覽量☁↟↟◕:815
  • 飽和型加速壽命試驗機
    飽和型加速壽命試驗機

    飽和型加速壽命試驗機主要是測試半導體封裝之溼氣能力☁·││↟,待測產品被置於嚴苛之溫度╃│·↟、溼度及壓力下測試☁·││↟,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體☁·││↟,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路☁·││↟,或封裝體引腳間因汙染造成短路等••·▩。 PCTZ主要是測試半導體封裝之溼氣能力☁·││↟,待測產品被置於嚴苛之溫度╃│·↟、溼度及壓力下測試☁·││↟,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體••·▩。

    時間☁↟↟◕:2020-06-15型號☁↟↟◕:瀏覽量☁↟↟◕:875
  • PCT加速老化試驗機
    PCT加速老化試驗機

    PCT加速老化試驗機主要是測試半導體封裝之溼氣能力☁·││↟,待測產品被置於嚴苛之溫度╃│·↟、溼度及壓力下測試☁·││↟,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體☁·││↟,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路☁·││↟,或封裝體引腳間因汙染造成短路等••·▩。

    時間☁↟↟◕:2020-05-29型號☁↟↟◕:瀏覽量☁↟↟◕:889
  • PCT高壓壽命試驗機
    PCT高壓壽命試驗機

    PCT高壓壽命試驗機主要作用是用來測試半導體封裝之溼氣能力☁·││↟,待測產品被置於嚴苛之溫度╃│·↟、溼度及壓力下測試☁·││↟,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體.

    時間☁↟↟◕:2020-05-29型號☁↟↟◕:瀏覽量☁↟↟◕:871
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