產品展示 / products 您的位置│↟│:網站首頁 > 產品展示 > PCT高壓加速老化試驗機 > 飽和加速壽命試驗箱 > 飽和型加速壽命試驗機
飽和型加速壽命試驗機

飽和型加速壽命試驗機

簡要描述│↟│:飽和型加速壽命試驗機主要是測試半導體封裝之溼氣能力↟↟₪▩▩,待測產品被置於嚴苛之溫度☁│▩、溼度及壓力下測試↟↟₪▩▩,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體↟↟₪▩▩,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路↟↟₪▩▩,或封裝體引腳間因汙染造成短路等↟☁☁·₪。 PCTZ主要是測試半導體封裝之溼氣能力↟↟₪▩▩,待測產品被置於嚴苛之溫度☁│▩、溼度及壓力下測試↟↟₪▩▩,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體↟☁☁·₪。

所屬分類│↟│:飽和加速壽命試驗箱

更新時間│↟│:2020-06-15

廠商性質│↟│:生產廠家

詳情介紹
品牌SETH/賽思產地類別國產
應用領域能源,電子,航天,汽車,電氣

飽和型加速壽命試驗機用 途│↟│:

主要是測試半導體封裝之溼氣能力↟↟₪▩▩,待測產品被置於嚴苛之溫度☁│▩、溼度及壓力下測試↟↟₪▩▩,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體↟↟₪▩▩,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路↟↟₪▩▩,或封裝體引腳間因汙染造成短路等↟☁☁·₪。 PCT主要是測試半導體封裝之溼氣能力↟↟₪▩▩,待測產品被置於嚴苛之溫度☁│▩、溼度及壓力下測試↟↟₪▩▩,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體↟☁☁·₪。

飽和型加速壽命試驗機特 點│↟│:

◆ 真空泵浦設計(鍋爐內空氣抽出)提高壓力穩定性☁│▩、再現性;

◆ 超長效實驗運轉時間↟↟₪▩▩,長時間實驗機臺運轉300小時;

◆ 乾燥設計↟↟₪▩▩,試驗終止採真空乾燥設計確保測試區(待測品)的乾燥;

◆ 水位保護↟↟₪▩▩,透過爐內水位Sensor檢知保護;

◆ 耐壓設計↟↟₪▩▩,箱體耐壓力(140℃)2.65kg↟↟₪▩▩,符合水壓測試6k;

◆ 二段式壓力安全保護裝置↟↟₪▩▩,採兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置;

◆ 安全保護排壓鈕↟↟₪▩▩,警急安全裝置二段式自動排壓鈕;

技術規格│↟│:

型號

SEST-S250

SEST-S350

SEST-S450

SEST-S550

工作室尺寸(cm)

Ø 25×35

Ø 30×45

Ø 40×55

Ø 50×60


溫度範圍

 105~132℃

溼度範圍

 100%RH飽和蒸汽(不可調)// 65%RH~100%RH非飽和蒸汽(可調)

溫度均勻度

≤2℃

溼度均勻度

≤±5%RH

壓力範圍

1.2~2.89kg(含1atm)

加壓時間

 約45/Min

溫度控制器

           中文彩色觸控式螢幕+ PLC控制器(控制軟體自行開發)

迴圈方式

  強制對流迴圈方式

結構

標準壓力容器

加溼系統

電熱管

加溼用水

蒸餾水或去離子水(自動補水)

電源

       AC380V  50Hz三相四線+接地線

材料

外殼材料

 冷軋鋼板靜電噴塑(SETH標準色)

內壁材料

  SUS316不鏽鋼板

保溫材料

 玻璃纖維棉

電壓

220V~240V  50/60HZ單相



留言詢價

留言框

  • 產品│↟│:

  • 您的單位│↟│:

  • 您的姓名│↟│:

  • 聯絡電話│↟│:

  • 常用郵箱│↟│:

  • 省份│↟│:

  • 詳細地址│↟│:

  • 補充說明│↟│:

  • 驗證碼│↟│:

    請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字)↟↟₪▩▩,如│↟│:三加四=7
上一篇│↟│:JISD防塵試驗箱
下一篇│↟│:UV紫外老化試驗箱

聯絡我們

contact us

掃一掃↟↟₪▩▩,關注我們

返回頂部




中文亚洲av片在线观看不卡,国产下药迷倒白嫩丰满美女bd,av不卡在线永久免费观看,2021无码最新国产在线观看