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高低溫衝擊應力試驗箱

高低溫衝擊應力試驗箱

簡要描述↟╃₪☁:高低溫衝擊應力試驗箱可執行AMP(等均溫變)◕•▩、三箱衝擊(TC)◕•▩、兩箱衝擊(TS)◕•▩、高溫儲存◕•▩、低溫儲存功能;等均溫速率可設定範圍5℃~30℃/min(40℃)

所屬分類↟╃₪☁:熱應力複合試驗箱

更新時間↟╃₪☁:2020-06-17

廠商性質↟╃₪☁:生產廠家

詳情介紹
品牌SETH/賽思價格區間20萬-50萬
產地類別國產應用領域能源,電子,航天,汽車,電氣

高低溫衝擊應力試驗箱介紹↟╃₪☁:

  為了模擬不同電子構件₪₪◕₪,在實際使用環境中遭遇的溫度條件₪₪◕₪,改變環境溫差範圍及急促升降溫度改變₪₪◕₪,可以提供更為嚴格測試環境₪₪◕₪,縮短測試時間₪₪◕₪,降低測試費用₪₪◕₪,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響₪₪◕₪,產生非使用狀態的破壞試驗₪◕▩│。賽思sethtest

高低溫衝擊應力試驗箱特點↟╃₪☁:

1◕•▩、可執行AMP(等均溫變)◕•▩、三箱衝擊(TC)◕•▩、兩箱衝擊(TS)◕•▩、高溫儲存◕•▩、低溫儲存功能
2◕•▩、等均溫速率可設定範圍5℃~30℃/min(40℃)/min
3◕•▩、滿足無鉛製程◕•▩、無鉛焊錫◕•▩、錫須(晶須)◕•▩、DELL D4559◕•▩、MOTO◕•▩、IEC-60068-2-14NB◕•▩、JESC22-A14C◕•▩、IPC-9701...等試驗要求
4◕•▩、賽思採用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術實現低溫節能執行
5◕•▩、賽思除霜週期三天除霜一次₪₪◕₪,每次只需1小時完成;
6◕•▩、通訊配置RS232介面和USB儲存曲線下載功能
7◕•▩、感測器放置測試區出(回)風口符合實驗有效性
8◕•▩、機臺多處報警監測₪₪◕₪,配置無線遠端報警功能
9◕•▩、水路和水位控制與電控系統隔離安裝₪₪◕₪,安全可靠性高(SETH產品)

滿足試驗標準↟╃₪☁:

GB/T2423.22-2002 試驗N↟╃₪☁:溫度變化試驗方法 試驗Na
EIA-364-32 冷熱衝擊試驗
IEC6008-2-14 溫度變化
GJB 150.5-1986 溫度衝擊試驗
符合:MIL◕•▩、IEC◕•▩、JIS◕•▩、IPC…應力篩選RAMP(負載參見5.5.7₪₪◕₪,發熱負載≤50W)

產品&規範

廠商名稱

高溫

低溫

溫變率

迴圈數

迴圈時間

備註

MIL-STD-2164◕•▩、GJB-1032-90
電子產品應力篩選

——

工作極限溫度

工作極限溫度

5℃/min

10~12

3h20min

——

MIL-344A-4-16
電子裝置環境應力篩選

裝置或系統

71℃

-54℃

5℃/min

10

——

——

MIL-2164A-19
電子裝置環境應力篩選方法

——

工作極限溫度

工作極限溫度

10℃/min

10

——

駐留時間為內部達到溫度10℃時

NABMAT-9492
美軍*製造篩選

裝置或系統

55℃

-53℃

15℃/min

10

——

駐留時間為內部達到溫度5℃時

GJB/Z34-5.1.6
電子產品定量環境應力篩選指南

元件

85℃

-55℃

15℃/min

≧25

——

達到溫度穩定的時間

GJB/Z34-5.1.6
電子產品定量環境應力篩選指南

裝置或系統

70℃

-55℃

5℃/min

≧10

——

達到溫度穩定的時間

膝上型電腦

主機板廠商

85℃

-40℃

15℃/min

——

——

——

溫控制斜率↟╃₪☁:

TSR(斜率可控制)[5℃~30 ℃/min]

 

30℃/min→

電子原件焊錫可靠度◕•▩、PWB的嵌入電阻&電容溫度迴圈 MOTOROLA壓力感測器溫度迴圈試驗

28℃/min→

LED汽車照明燈

25℃/min→

PCB的產品合格試驗◕•▩、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應

24℃/min→

光纖連線頭

20℃/min→

IPC-9701 ◕•▩、覆晶技術的溫度測試◕•▩、GS-12-120◕•▩、飛彈電路板溫度迴圈試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法◕•▩、DELL計算機系統&端子◕•▩、改進導通孔系統訊號 比較IC包裝的熱量迴圈和SnPb焊接◕•▩、溫度迴圈斜率對焊錫的疲勞壽命

 

17℃/min→

MOTO

15℃/min→

IEC 60749-25◕•▩、JEDEC JESD22-A104B◕•▩、MIL ◕•▩、DELL液晶顯示器 電子元件溫度迴圈測試(家電◕•▩、計算機◕•▩、通訊◕•▩、民用航空器◕•▩、工業及交通工具◕•▩、 汽車引擎蓋下環境)

11℃/min→

無鉛CSP產品溫度迴圈測試◕•▩、晶片級封裝可靠度試驗(WLCSP) ◕•▩、IC包裝和SnPb焊接◕•▩、 JEDEC JESD22-A104-A

10℃/min→

通用汽車◕•▩、 JEDEC JESD22-A104B-J◕•▩、GR-1221-CORE ◕•▩、 CR200315 ◕•▩、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 ◕•▩、溫度迴圈斜率對焊錫的疲勞壽命◕•▩、 IBM-FR4板溫度迴圈測試

5℃/min→

 

錫須溫度迴圈試驗

技術引數↟╃₪☁:

型號

SER-A

SER-B

SER-C

SER-D

內箱尺寸
W x D x H cm

40×35×35

50×50×40

60×50×50

70×60×60

外箱尺寸
W x D x H cm

140×165×165

150×200×175

160×225×185

170×260×193

溫度範圍

-80.00℃~+200.00℃

低溫衝擊範圍

-10.00℃~-40℃//-55℃//-65.00℃

高溫衝擊範圍

+60.00℃~+150.00℃

時間設定範圍

0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment

溫度波動度

≤1℃(≤±0.5℃₪₪◕₪,按GB/T5170-1996表示)

溫度偏差

≤±2℃(-65℃~+150℃)

溫度均勻度

<2.00℃以內

溫變速率(斜率)

+5℃~+30℃/min(+40℃)

溫變範圍

-55℃~+85℃//+125℃

 



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