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溫度衝擊應力篩選試驗箱

溫度衝擊應力篩選試驗箱

簡要描述◕◕│◕:溫度衝擊應力篩選試驗箱​對不同電子構件✘▩✘▩↟,在實際使用環境中遭遇的溫度條件✘▩✘▩↟,改變環境溫差範圍及急促升降溫度改變✘▩✘▩↟,可以提供更為嚴格測試環境✘▩✘▩↟,縮短測試時間✘▩✘▩↟,降低測試費用✘▩✘▩↟,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響✘▩✘▩↟,產生非使用狀態的破壞試驗☁▩₪•。

所屬分類◕◕│◕:熱應力複合試驗箱

更新時間◕◕│◕:2020-06-17

廠商性質◕◕│◕:生產廠家

詳情介紹
品牌SETH/賽思產地類別國產
應用領域能源,電子,航天,汽車,電氣

溫度衝擊應力篩選試驗箱對不同電子構件✘▩✘▩↟,在實際使用環境中遭遇的溫度條件✘▩✘▩↟,改變環境溫差範圍及急促升降溫度改變✘▩✘▩↟,可以提供更為嚴格測試環境✘▩✘▩↟,縮短測試時間✘▩✘▩↟,降低測試費用✘▩✘▩↟,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響✘▩✘▩↟,產生非使用狀態的破壞試驗☁▩₪•。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為◕◕│◕:Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度迴圈(可控制斜率的溫度衝擊)☁▩₪•。

溫度衝擊應力篩選試驗箱特點◕◕│◕:

1.可執行AMP(等均溫變)╃▩│╃、三箱衝擊(TC)╃▩│╃、兩箱衝擊(TS)╃▩│╃、高溫儲存╃▩│╃、低溫儲存功能;

2.等均溫速率可設定範圍5℃~30℃/min(40℃/min);

3.滿足無鉛製程╃▩│╃、無鉛焊錫╃▩│╃、錫須(晶須)╃▩│╃、DELL D4559╃▩│╃、MOTO╃▩│╃、IEC-60068-2-14NB╃▩│╃、JESC22-A14C╃▩│╃、IPC-9701...等試驗要求; 

4.採用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術實現低溫節能執行;

5.除霜週期三天除霜一次✘▩✘▩↟,每次只需1小時完成☁▩₪•。

6.通訊配置RS232介面和USB儲存曲線下載功能;

7.感測器放置測試區出(回)風口符合實驗有效性;

8.機臺多處報警監測✘▩✘▩↟,配置無線遠端報警功能;

 

標準◕◕│◕:

產品&規範

廠商名稱

高溫

低溫

溫變率

迴圈數

迴圈時間

備註

MIL-STD-2164╃▩│╃、GJB-1032-90
電子產品應力篩選

——

工作極限溫度

工作極限溫度

5℃/min

10~12

3h20min

——

MIL-344A-4-16
電子裝置環境應力篩選

裝置或系統

71℃

-54℃

5℃/min

10

——

——

MIL-2164A-19
電子裝置環境應力篩選方法

——

工作極限溫度

工作極限溫度

10℃/min

10

——

駐留時間為內部達到溫度10℃時

NABMAT-9492
美軍*製造篩選

裝置或系統

55℃

-53℃

15℃/min

10

——

駐留時間為內部達到溫度5℃時

GJB/Z34-5.1.6
電子產品定量環境應力篩選指南

元件

85℃

-55℃

15℃/min

≧25

——

達到溫度穩定的時間

GJB/Z34-5.1.6
電子產品定量環境應力篩選指南

裝置或系統

70℃

-55℃

5℃/min

≧10

——

達到溫度穩定的時間

膝上型電腦

主機板廠商

85℃

-40℃

15℃/min

——

——

——

溫度控制範圍◕◕│◕:

TSR(斜率可控制)[5℃~30 ℃/min]

 

30℃/min→

電子原件焊錫可靠度╃▩│╃、PWB的嵌入電阻&電容溫度迴圈 MOTOROLA壓力感測器溫度迴圈試驗

28℃/min→

LED汽車照明燈

25℃/min→

PCB的產品合格試驗╃▩│╃、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應

24℃/min→

光纖連線頭

20℃/min→

IPC-9701 ╃▩│╃、覆晶技術的溫度測試╃▩│╃、GS-12-120╃▩│╃、飛彈電路板溫度迴圈試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法╃▩│╃、DELL計算機系統&端子╃▩│╃、改進導通孔系統訊號 比較IC包裝的熱量迴圈和SnPb焊接╃▩│╃、溫度迴圈斜率對焊錫的疲勞壽命

 

17℃/min→

MOTO

15℃/min→

IEC 60749-25╃▩│╃、JEDEC JESD22-A104B╃▩│╃、MIL ╃▩│╃、DELL液晶顯示器 電子元件溫度迴圈測試(家電╃▩│╃、計算機╃▩│╃、通訊╃▩│╃、民用航空器╃▩│╃、工業及交通工具╃▩│╃、 汽車引擎蓋下環境)

11℃/min→

無鉛CSP產品溫度迴圈測試╃▩│╃、晶片級封裝可靠度試驗(WLCSP) ╃▩│╃、IC包裝和SnPb焊接╃▩│╃、 JEDEC JESD22-A104-A

10℃/min→

通用汽車╃▩│╃、 JEDEC JESD22-A104B-J╃▩│╃、GR-1221-CORE ╃▩│╃、 CR200315 ╃▩│╃、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 ╃▩│╃、溫度迴圈斜率對焊錫的疲勞壽命╃▩│╃、 IBM-FR4板溫度迴圈測試

5℃/min→

 

錫須溫度迴圈試驗

技術規格

型號

SER-A

SER-B

SER-C

SER-D

內箱尺寸
W x D x H cm

40×35×35

50×50×40

60×50×50

70×60×60

外箱尺寸
W x D x H cm

140×165×165

150×200×175

160×225×185

170×260×193

溫度範圍

-80.00℃~+200.00℃

低溫衝擊範圍

-10.00℃~-40℃//-55℃//-65.00℃

高溫衝擊範圍

+60.00℃~+150.00℃

時間設定範圍

0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment

溫度波動度

≤1℃(≤±0.5℃✘▩✘▩↟,按GB/T5170-1996表示)

溫度偏差

≤±2℃(-65℃~+150℃)

溫度均勻度

<2.00℃以內

溫變速率(斜率)

+5℃~+30℃/min(+40℃)

溫變範圍

-55℃~+85℃//+125℃



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