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熱應力複合試驗箱

熱應力複合試驗箱

簡要描述₪╃·•:熱應力複合試驗箱對不同電子構件✘·▩•,在實際使用環境中遭遇的溫度條件✘·▩•,改變環境溫差範圍及急促升降溫度改變✘·▩•,可以提供更為嚴格測試環境✘·▩•,縮短測試時間✘·▩•,降低測試費用✘·▩•,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響✘·▩•,產生非使用狀態的破壞試驗

所屬分類₪╃·•:熱應力複合試驗箱

更新時間₪╃·•:2020-06-09

廠商性質₪╃·•:生產廠家

詳情介紹
品牌SETH/賽思產地類別國產
應用領域能源,電子,航天,汽車,電氣

熱應力複合試驗箱對不同電子構件✘·▩•,在實際使用環境中遭遇的溫度條件✘·▩•,改變環境溫差範圍及急促升降溫度改變✘·▩•,可以提供更為嚴格測試環境✘·▩•,縮短測試時間✘·▩•,降低測試費用✘·▩•,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響✘·▩•,產生非使用狀態的破壞試驗↟▩。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為₪╃·•:Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度迴圈(可控制斜率的溫度衝擊)↟▩。

熱應力複合試驗箱特點₪╃·•:

1││◕、可執行AMP(等均溫變)││◕、三箱衝擊(TC)││◕、兩箱衝擊(TS)││◕、高溫儲存││◕、低溫儲存功能;

2││◕、可執行慢速溫度迴圈[35/min]符合IEC60068-2││◕、應力篩選ESS[515/min]符合JESD22││◕、快速溫變[1530/min](40℃/min)││◕、冷熱衝擊四種不同裝置的溫變試驗Laboratory Class

3││◕、滿足無鉛製程││◕、無鉛焊錫││◕、錫須(晶須)││◕、DELL D4559││◕、MOTO││◕、IEC-60068-2-14NB││◕、JESC22-A14C││◕、IPC-9701...等試驗要求;

4││◕、待測品自動負載調整免手動設定預冷預熱✘·▩•,可依據待測品負載量系統自動調整↟▩。

5││◕、精靈快捷鍵 人性化快速進入選單高低溫常溫衝擊 ;

6││◕、超低除霜次數    高低溫常溫衝擊(3 Zoon)100Cycle免除霜✘·▩•,縮短試驗時間與能耗↟▩。

7││◕、賽思採用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術實現低溫節能執行;

9││◕、通訊配置RS232介面和USB儲存曲線下載功能;

10││◕、感測器放置測試區出(回)風口賽思設計符合實驗有效性;

11││◕、機臺多處報警監測✘·▩•,配置無線遠端報警功能;

測試規範₪╃·•:

標準₪╃·•:滿足無鉛製程││◕、無鉛焊錫││◕、錫須(晶須)││◕、DELL D4559││◕、MOTO││◕、IEC-60068-2-14NB││◕、JESC22-A14C││◕、IPC-9701...等試驗要求↟▩。

產品&規範

廠商名稱

高溫

低溫

溫變率

迴圈數

迴圈時間

備註

MIL-STD-2164││◕、GJB-1032-90電子產品應力篩選

——

工作極限溫度

工作極限溫度

5℃/min

10~12

3h20min

——

MIL-344A-4-16電子裝置環境應力篩選

裝置或系統

71

-54

5℃/min

10

——

——

MIL-2164A-19電子裝置環境應力篩選方法

——

工作極限溫度

工作極限溫度

10℃/min

10

——

駐留時間為內部達到溫度10℃時

NABMAT-9492美軍制造篩選

裝置或系統

55

-53

15℃/min

10

——

駐留時間為內部達到溫度5℃時

GJB/Z34-5.1.6電子產品定量環境應力篩選指南

元件

85

-55

15℃/min

≧25

——

達到溫度穩定的時間

GJB/Z34-5.1.6電子產品定量環境應力篩選指南

裝置或系統

70

-55

5℃/min

≧10

——

達到溫度穩定的時間

膝上型電腦

主機板廠商

85

-40

15℃/min

——

——

——

斜率可控範圍₪╃·•:

TSR(斜率可控制)[5℃~30 ℃/min]

 30℃/min→

電子原件焊錫可靠度││◕、PWB的嵌入電阻&電容溫度迴圈 MOTOROLA壓力感測器溫度迴圈試驗

28℃/min→

LED汽車照明燈

25℃/min→

PCB的產品合格試驗││◕、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應

24℃/min→

光纖連線頭

20℃/min→

IPC-9701 ││◕、覆晶技術的溫度測試││◕、GS-12-120││◕、飛彈電路板溫度迴圈試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法││◕、DELL計算機系統&端子││◕、改進導通孔系統訊號 比較IC包裝的熱量迴圈和SnPb焊接││◕、溫度迴圈斜率對焊錫的疲勞壽命

 

17℃/min→

MOTO

15℃/min→

IEC 60749-25││◕、JEDEC JESD22-A104B││◕、MIL ││◕、DELL液晶顯示器 電子元件溫度迴圈測試(家電││◕、計算機││◕、通訊││◕、民用航空器││◕、工業及交通工具││◕、 汽車引擎蓋下環境)

11℃/min→

無鉛CSP產品溫度迴圈測試││◕、晶片級封裝可靠度試驗(WLCSP) ││◕、IC包裝和SnPb焊接││◕、 JEDEC JESD22-A104-A

10℃/min→

通用汽車││◕、 JEDEC JESD22-A104B-J││◕、GR-1221-CORE ││◕、 CR200315 ││◕、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 ││◕、溫度迴圈斜率對焊錫的疲勞壽命││◕、 IBM-FR4板溫度迴圈測試

5℃/min→

錫須溫度迴圈試驗

技術規格₪╃·•:

型號

SER-A

SER-B

SER-C

SER-D

內箱尺寸
W x D x H cm

40×35×35

50×50×40

60×50×50

70×60×60

外箱尺寸
W x D x H cm

140×165×165

150×200×175

160×225×185

170×260×193

溫度範圍

-80.00℃~+200.00℃

低溫衝擊範圍

-10.00℃~-40℃//-55℃//-65.00℃

高溫衝擊範圍

+60.00℃~+150.00℃

時間設定範圍

0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment

溫度波動度

≤1℃(≤±0.5℃✘·▩•,按GB/T5170-1996表示)

溫度偏差

≤±2℃(-65℃~+150℃)

溫度均勻度

<2.00℃以內

溫變速率(斜率)

+5℃~+30℃/min(+40℃)

溫變範圍

-55℃~+85℃//+125℃



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