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溫度衝擊熱應力篩選試驗箱

溫度衝擊熱應力篩選試驗箱

簡要描述▩↟│▩:溫度衝擊熱應力篩選試驗箱對不同電子構件•╃▩↟╃,在實際使用環境中遭遇的溫度條件•╃▩↟╃,改變環境溫差範圍及急促升降溫度改變•╃▩↟╃,可以提供更為嚴格測試環境•╃▩↟╃,縮短測試時間•╃▩↟╃,降低測試費用•╃▩↟╃,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響•╃▩↟╃,產生非使用狀態的破壞試驗·☁•。

所屬分類▩↟│▩:溫度衝擊應力篩選試驗箱

更新時間▩↟│▩:2020-06-09

廠商性質▩↟│▩:生產廠家

詳情介紹
品牌SETH/賽思產地類別國產
應用領域能源,電子,航天,汽車,電氣

溫度衝擊熱應力篩選試驗箱對不同電子構件•╃▩↟╃,在實際使用環境中遭遇的溫度條件•╃▩↟╃,改變環境溫差範圍及急促升降溫度改變•╃▩↟╃,可以提供更為嚴格測試環境•╃▩↟╃,縮短測試時間•╃▩↟╃,降低測試費用•╃▩↟╃,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響•╃▩↟╃,產生非使用狀態的破壞試驗·☁•。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為▩↟│▩:Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度迴圈(可控制斜率的溫度衝擊)·☁•。

溫度衝擊熱應力篩選試驗箱特點▩↟│▩:

1✘▩•↟↟、可執行AMP(等均溫變)✘▩•↟↟、三箱衝擊(TC)✘▩•↟↟、兩箱衝擊(TS)✘▩•↟↟、高溫儲存✘▩•↟↟、低溫儲存功能;

2✘▩•↟↟、可執行慢速溫度迴圈[3~5℃/min]符合IEC60068-2✘▩•↟↟、應力篩選ESS[5~15℃/min]符合JESD22✘▩•↟↟、快速溫變[15~30℃/min](40℃/min)✘▩•↟↟、冷熱衝擊四種不同裝置的溫變試驗Laboratory Class;

3✘▩•↟↟、滿足無鉛製程✘▩•↟↟、無鉛焊錫✘▩•↟↟、錫須(晶須)✘▩•↟↟、DELL D4559✘▩•↟↟、MOTO✘▩•↟↟、IEC-60068-2-14NB✘▩•↟↟、JESC22-A14C✘▩•↟↟、IPC-9701...等試驗要求;

4✘▩•↟↟、待測品自動負載調整免手動設定預冷預熱•╃▩↟╃,可依據待測品負載量系統自動調整·☁•。

5✘▩•↟↟、精靈快捷鍵 人性化快速進入選單高低溫常溫衝擊 ;

6✘▩•↟↟、超低除霜次數    高低溫常溫衝擊(3 Zoon)100Cycle免除霜•╃▩↟╃,縮短試驗時間與能耗·☁•。

7✘▩•↟↟、賽思採用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術實現低溫節能執行;

9✘▩•↟↟、通訊配置RS232介面和USB儲存曲線下載功能;

10✘▩•↟↟、感測器放置測試區出(回)風口賽思設計符合實驗有效性;

11✘▩•↟↟、機臺多處報警監測•╃▩↟╃,配置無線遠端報警功能;

測試規範▩↟│▩:

標準▩↟│▩:滿足無鉛製程✘▩•↟↟、無鉛焊錫✘▩•↟↟、錫須(晶須)✘▩•↟↟、DELL D4559✘▩•↟↟、MOTO✘▩•↟↟、IEC-60068-2-14NB✘▩•↟↟、JESC22-A14C✘▩•↟↟、IPC-9701...等試驗要求·☁•。

產品&規範

廠商名稱

高溫

低溫

溫變率

迴圈數

迴圈時間

備註

MIL-STD-2164✘▩•↟↟、GJB-1032-90電子產品應力篩選

——

工作極限溫度

工作極限溫度

5℃/min

10~12

3h20min

——

MIL-344A-4-16電子裝置環境應力篩選

裝置或系統

71

-54

5℃/min

10

——

——

MIL-2164A-19電子裝置環境應力篩選方法

——

工作極限溫度

工作極限溫度

10℃/min

10

——

駐留時間為內部達到溫度10℃時

NABMAT-9492美軍*製造篩選

裝置或系統

55

-53

15℃/min

10

——

駐留時間為內部達到溫度5℃時

GJB/Z34-5.1.6電子產品定量環境應力篩選指南

元件

85

-55

15℃/min

≧25

——

達到溫度穩定的時間

GJB/Z34-5.1.6電子產品定量環境應力篩選指南

裝置或系統

70

-55

5℃/min

≧10

——

達到溫度穩定的時間

膝上型電腦

主機板廠商

85

-40

15℃/min

——

——

——

斜率可控範圍▩↟│▩:

TSR(斜率可控制)[5℃~30 ℃/min]

 30℃/min→

電子原件焊錫可靠度✘▩•↟↟、PWB的嵌入電阻&電容溫度迴圈 MOTOROLA壓力感測器溫度迴圈試驗

28℃/min→

LED汽車照明燈

25℃/min→

PCB的產品合格試驗✘▩•↟↟、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應

24℃/min→

光纖連線頭

20℃/min→

IPC-9701 ✘▩•↟↟、覆晶技術的溫度測試✘▩•↟↟、GS-12-120✘▩•↟↟、飛彈電路板溫度迴圈試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法✘▩•↟↟、DELL計算機系統&端子✘▩•↟↟、改進導通孔系統訊號 比較IC包裝的熱量迴圈和SnPb焊接✘▩•↟↟、溫度迴圈斜率對焊錫的疲勞壽命

 

17℃/min→

MOTO

15℃/min→

IEC 60749-25✘▩•↟↟、JEDEC JESD22-A104B✘▩•↟↟、MIL ✘▩•↟↟、DELL液晶顯示器 電子元件溫度迴圈測試(家電✘▩•↟↟、計算機✘▩•↟↟、通訊✘▩•↟↟、民用航空器✘▩•↟↟、工業及交通工具✘▩•↟↟、 汽車引擎蓋下環境)

11℃/min→

無鉛CSP產品溫度迴圈測試✘▩•↟↟、晶片級封裝可靠度試驗(WLCSP) ✘▩•↟↟、IC包裝和SnPb焊接✘▩•↟↟、 JEDEC JESD22-A104-A

10℃/min→

通用汽車✘▩•↟↟、 JEDEC JESD22-A104B-J✘▩•↟↟、GR-1221-CORE ✘▩•↟↟、 CR200315 ✘▩•↟↟、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 ✘▩•↟↟、溫度迴圈斜率對焊錫的疲勞壽命✘▩•↟↟、 IBM-FR4板溫度迴圈測試

5℃/min→

錫須溫度迴圈試驗

技術規格▩↟│▩:

型號

SER-A

SER-B

SER-C

SER-D

內箱尺寸
W x D x H cm

40×35×35

50×50×40

60×50×50

70×60×60

外箱尺寸
W x D x H cm

140×165×165

150×200×175

160×225×185

170×260×193

預冷✘▩•↟↟、預熱範圍

-00.00℃~-75.00℃/+60.00℃~+200.00℃

應力衝擊範圍

-10.00℃~-65.00℃/+60.00℃~+150.00℃

時間設定範圍

0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment

解析度

0.01℃/min

溫度均勻度

±3.00℃以內(under℃3.00℃)

溫度應力變化範圍

+5℃~+30℃/min(+40℃)

衝擊試驗溫度

-65℃~+150℃ ±2.00℃以內(under ±2.00℃)

三箱衝擊溫度範圍

-55℃~+150℃ ±2.00℃以內(under ±2.00℃)



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