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  • 飽和型加速壽命試驗機
    飽和型加速壽命試驗機

    飽和型加速壽命試驗機主要是測試半導體封裝之溼氣能力▩₪₪•·,待測產品被置於嚴苛之溫度◕✘☁、溼度及壓力下測試▩₪₪•·,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體▩₪₪•·,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路▩₪₪•·,或封裝體引腳間因汙染造成短路等╃│╃▩☁。 PCTZ主要是測試半導體封裝之溼氣能力▩₪₪•·,待測產品被置於嚴苛之溫度◕✘☁、溼度及壓力下測試▩₪₪•·,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體╃│╃▩☁。

    時間│◕:2020-06-15型號│◕:瀏覽量│◕:875
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