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  • PCT加速老化試驗機
    PCT加速老化試驗機

    PCT加速老化試驗機主要是測試半導體封裝之溼氣能力✘☁,待測產品被置於嚴苛之溫度₪╃✘•│、溼度及壓力下測試✘☁,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體✘☁,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路✘☁,或封裝體引腳間因汙染造成短路等◕│✘│₪。

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  • PCT高壓壽命試驗機
    PCT高壓壽命試驗機

    PCT高壓壽命試驗機主要作用是用來測試半導體封裝之溼氣能力✘☁,待測產品被置於嚴苛之溫度₪╃✘•│、溼度及壓力下測試✘☁,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體.

    時間▩╃╃✘:2020-05-29瀏覽量▩╃╃✘:1070
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